4月18日消息,国家知识产权局信息显示,杭州中欣晶圆半导体股份有限公司申请一项名为“基于硅片插片工序的静电消除与表面清洁系统及工艺”的专利。申请公布号为CN121869782A,申请号为CN202511886282.4,申请公布日期为2026年4月17日,申请日期为2025年12月15日,发明人苏鹏辉,专利代理机构杭州融方专利代理事务所(普通合伙),专利代理师沈相权,分类号B08B5/04、H10P72/30、B08B13/00、H05F3/04。
专利摘要显示,本发明涉及硅片加工技术领域,具体公开了包括机架,机架的左部配置有输送组件,机架的右部配置有硅片装载盒,机架的顶部滑动连接有移动板,移动板的底部配置有推送组件,静电消除与表面清洁系统还包括吸尘组件,配置于机架的内部,吸尘组件包括固定连接在机架右部的吸尘框,机架的顶部连接有固定板,通过上述结构的配合,可以有效地防止灰尘飞散而导致灰尘飘散在空气中,从而避免吹出的灰尘出现再次下落在硅片上的风险,进而提高去除灰尘的效果,同时,将吸尘框的内部分隔成多个单独的空间,使得减少在吸收灰尘时容易出现硅片的各处吸气不均匀的情况,进一步提高吸收灰尘的效果,从而提高生产出硅片的质量。
天眼查数据显示,杭州中欣晶圆半导体股份有限公司成立日期2017年9月28日,法定代表人贺贤汉,所属行业为计算机、通信和其他电子设备制造业,企业规模为大型,注册资本523559.0107万人民币,实缴资本503225.6776万人民币,注册地址为浙江省杭州市钱塘区东垦路888号。杭州中欣晶圆半导体股份有限公司共对外投资了6家企业,参与招投标项目42次,财产线索方面有商标信息7条,专利信息445条,拥有行政许可22个。
杭州中欣晶圆半导体股份有限公司近期专利情况如下:
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 法律状态 | 申请号 | 申请日期 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日期 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | CMP设备的研磨液精准供给系统及其控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610128880.3 | 2026-01-30 | CN121733440A | 2026-03-27 | 刘肖 |
| 2 | 改善最终外观目检台聚光灯消耗的结构及其降本增效方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610066824.1 | 2026-01-19 | CN121782552A | 2026-04-03 | 李林秀 |
| 3 | 针对成品晶圆的包装盒可视检测系统及码放精度测量方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610021292.X | 2026-01-08 | CN121829314A | 2026-04-10 | 王伟东 |
| 4 | 一种修整8英寸硅片抛光站陶瓷盘的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512037297.X | 2025-12-31 | CN121696834A | 2026-03-20 | 张森阳 |
| 5 | 检测晶体微小缺陷的方法 | 发明专利 | 公布 | CN202512046375.2 | 2025-12-31 | CN121830714A | 2026-04-10 | 何珍碧 |
| 6 | 一种提升硅片良率的多位置快速吸附机构及操作方法 | 发明专利 | 公布 | CN202512046368.2 | 2025-12-31 | CN121888919A | 2026-04-17 | 石建群 |
| 7 | 一种8吋硅片酸腐蚀加工工艺 | 发明专利 | 公布 | CN202512037300.8 | 2025-12-31 | CN121888881A | 2026-04-17 | 缪燃 |
| 8 | 降低LPCVD工艺中单晶硅片翘曲度的方法 | 发明专利 | 公布 | CN202512046344.7 | 2025-12-31 | CN121874744A | 2026-04-17 | 崔涛、李鹏 |
| 9 | 基于晶圆倒角机的缓冲吸附机械手系统及操作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512007568.7 | 2025-12-29 | CN121696852A | 2026-03-20 | 杜书红 |
| 10 | 一种应用于硅片的抛光液自动配比供应系统及控制方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511988919.0 | 2025-12-26 | CN121879445A | 2026-04-17 | 李炎 |
| 11 | 一种检测亲水性硅片表面金属的ICP-MS进样装置及工艺 | 发明专利 | 公布 | CN202511965099.3 | 2025-12-24 | CN121805386A | 2026-04-07 | 苏慧云、戴潮 |
| 12 | 颗粒检测仪在测试过程中被吸附颗粒的改进方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511953352.3 | 2025-12-23 | CN121877674A | 2026-04-17 | 郑斌 |
| 13 | 针对晶圆片盒内金属含量的防污染检测系统及快速检测方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511941811.6 | 2025-12-22 | CN121678728A | 2026-03-17 | 苏慧云、周桂丽、戴潮 |
| 14 | 一种降低硅抛光片体镍含量的方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511938463.7 | 2025-12-22 | CN121888877A | 2026-04-17 | 高威、张森阳 |
| 15 | 一种硅单晶粗片的轮廓参数检测系统及工艺 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511927715.6 | 2025-12-19 | CN121612895A | 2026-03-06 | 周卫宏 |
| 16 | 一种硅片加工的全流程中防崩边闭环系统及操作方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511908263.7 | 2025-12-17 | CN121870571A | 2026-04-17 | 胡磊 |
| 17 | 基于边缘区域在线监测与动态压力补偿的抛光方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511886277.3 | 2025-12-15 | CN121552237A | 2026-02-24 | 徐姜炜 |
| 18 | 采用液相离子色谱仪分析硅片表面氯离子的前处理方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511886281.X | 2025-12-15 | CN121805489A | 2026-04-07 | 周桂丽、戴潮、代治立、周卫宏 |
| 19 | 基于硅片插片工序的静电消除与表面清洁系统及工艺 | 发明专利 | 公布 | CN202511886282.4 | 2025-12-15 | CN121869782A | 2026-04-17 | 苏鹏辉 |
| 20 | 针对晶圆倒角的晶圆边缘加工系统及倒角工艺 | 发明专利 | 公布 | CN202511865282.6 | 2025-12-11 | CN121552186A | 2026-02-24 | 黄炜霞 |
| 21 | 一种片盒包装的装载、检查系统及安装方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511846572.6 | 2025-12-09 | CN121553472A | 2026-02-24 | 王斌 |
| 22 | 硅片V型槽抛光中心矫正的加工方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511816359.0 | 2025-12-04 | CN121572186A | 2026-02-27 | 吴福壮 |
| 23 | 区分PV型与PI型硅片的方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511816355.2 | 2025-12-04 | CN121888927A | 2026-04-17 | 王烨华、康海洋 |
| 24 | 预防供液管路结晶的冲洗装置及其控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511773551.6 | 2025-11-28 | CN121403247A | 2026-01-27 | 毛国领 |
| 25 | 铬酸回收装置及其控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511773554.X | 2025-11-28 | CN121700174A | 2026-03-20 | 孙贵昌、方一栋 |
| 26 | 降低EPI过程应力突变造成长膜畸变量的系统及工艺 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511762935.8 | 2025-11-27 | CN121752000A | 2026-03-27 | 李皓 |
| 27 | 用于高电阻硅片的在线式光学干涉平坦度测量方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511730214.9 | 2025-11-24 | CN121677620A | 2026-03-17 | 雷凇 |
| 28 | APCVD背面污迹工艺的优化方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511730212.X | 2025-11-24 | CN121700360A | 2026-03-20 | 吕进午 |
| 29 | 基于化学机械协同与多步应力管理的半导体硅片减薄工艺 | 发明专利 | 公布 | CN202511681766.5 | 2025-11-17 | CN121670511A | 2026-03-17 | 何航党、高洪涛 |
| 30 | 外延后膜厚及滑移线的改善方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511681767.X | 2025-11-17 | CN121712314A | 2026-03-20 | 何珍碧 |
| 31 | 基于12寸APCVD托盘的三次降温系统及积载清洗方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511681610.7 | 2025-11-17 | CN121700371A | 2026-03-20 | 吕进午 |
| 32 | 硅片少子寿命的RTP前处理方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511681768.4 | 2025-11-17 | CN121712321A | 2026-03-20 | 罗国菁、李涛 |
| 33 | 一种半导体双面研磨机纳米级复合研磨粉及研磨液 | 发明专利 | 公布 | CN202511658494.7 | 2025-11-13 | CN121780129A | 2026-04-03 | 何航党、高洪涛 |
| 34 | 基于调整LP成膜温度的CVD工艺优化晶圆翘曲的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511652781.7 | 2025-11-12 | CN121712262A | 2026-03-20 | 刘文涛、王骞玮 |
| 35 | 基于槽式清洗消除PIN印的硅片加工方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511652782.1 | 2025-11-12 | CN121712282A | 2026-03-20 | 郭天天 |
| 36 | 一种Ar炉氩气与氩氢混气工艺的切换设备及控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511626278.4 | 2025-11-07 | CN121700151A | 2026-03-20 | 平铁卫 |
| 37 | 改善双面抛光加工硅片厚度形貌倾斜的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511617289.6 | 2025-11-06 | CN121374420A | 2026-01-23 | 姚胜平 |
| 38 | 硅片小抛头的整组更换结构及其操作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511617287.7 | 2025-11-06 | CN121424229A | 2026-01-30 | 陈彬 |
| 39 | 一种分析炉管清洗槽金属污染水平的检测方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511581737.1 | 2025-10-31 | CN121298370A | 2026-01-09 | 周桂丽、赵祥峰、戴潮、代治立、周卫宏 |
| 40 | 一种使用平板氧化铝进行半导体级硅片磨片的研磨液及研磨方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511586194.2 | 2025-10-31 | CN121427493A | 2026-01-30 | 高威 |
| 41 | 一种基于硅烷-氮气分阶断沉积的LPCVD均一性优化工艺 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511586213.1 | 2025-10-31 | CN121428520A | 2026-01-30 | 赵祥峰 |
| 42 | 一种基于APCVD工艺的硅片倒角部位LTO层去除方法和系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511586203.8 | 2025-10-31 | CN121443043A | 2026-01-30 | 高威 |
| 43 | 流量校准的工具及其使用方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511577872.9 | 2025-10-31 | CN121521229A | 2026-02-13 | 王方立 |
| 44 | 检测设备相机的散热系统及其运行方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511577875.2 | 2025-10-31 | CN121559800A | 2026-02-24 | 李君 |
| 45 | 基于红外线阵扫描的倒角机崩边实时检测装置及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511567859.5 | 2025-10-30 | CN121104823A | 2025-12-12 | 杜书红 |
| 46 | 一种提升硅片背面去蜡能力的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511563995.7 | 2025-10-30 | CN121487521A | 2026-02-06 | 朱墨涵、王骞玮 |
| 47 | 基于CMP工序用的研磨液添加系统及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511549473.1 | 2025-10-28 | CN121223690A | 2025-12-30 | 杨石平 |
| 48 | 一种用于单晶硅片的高效低损伤研磨液及其制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511552895.4 | 2025-10-28 | CN121319792A | 2026-01-13 | 黄炜霞 |
| 49 | 用于消除LPCVD加工中硅片舟迹的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511529816.8 | 2025-10-24 | CN121575367A | 2026-02-27 | 黄明洋、李鹏 |
| 50 | 一种针对磨片定盘中沟槽研磨粉的柔性清洁系统及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511520729.6 | 2025-10-23 | CN121374419A | 2026-01-23 | 苏鹏辉 |
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